El recién creado Capítulo Español de la Sociedad de Instrumentación y Medida realizó su Reunión Técnica Anual el día 4 de julio de 2018, en la Escuela de Ingeniería de Barcelona Este (EEBE), dentro del marco del Seminario de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI). La Foto 1 muestra los asistentes a dicho evento.

En dicha reunión se trataron las próximas actividades a realizar por el Capítulo en 2018, entre las que destacan la workshop sobre Precision Measurements, conjuntamente con el Capítulo Portugués de IMS y la organización del webinar impartido por el Centro Nacional de Metrología (CEM) sobre Metrology for Instrumentation.

A la reunión del capítulo fue invitada la profesora Olfa Kanoun, IMS Distinguished Lecturer y Chair for Measurement and Sensor Technology, la cual realizó la presentación del tema: «Impedance of Everything: One method with manifold prospects«. Dicha presentación formó parte también del programa del SAAEI como una sesión especial de instrumentación.

La espectroscopía de impedancia es un método de medición de altas prestaciones que se puede utilizar en muchos campos de la ciencia y la tecnología, incluida la medicina, la química y la ciencia de los materiales. Mide la impedancia compleja en un rango de frecuencias y abre posibilidades para separar efectos, mediciones precisas y mediciones de cantidades no accesibles.

Para la caracterización del material, la espectroscopía de impedancia ofrece posibilidades interesantes para investigar el comportamiento eléctrico complejo, incluyendo el comportamiento resistivo, capacitivo e inductivo. Para las baterías, se puede realizar una estimación no destructiva de la carga restante de la batería, también conocida como estado de carga (SoC) y estado de salud (SoH). Para los tejidos biológicos, la caracterización no invasiva, la investigación del estado de salud patológica y el diagnóstico de enfermedades se pueden realizar. Para los sensores, ofrece mucha más información que solo mediante medición resistiva, capacitiva o inductiva para obtener sensores precisos y multifuncionales.

En esta contribución la profesora Olfa expuso, con ejemplos seleccionados, el potencial del método, explicando los principales aspectos científicos, en un intento por la generalización del método.